JTAG（Joint Test Action Group）接口是一个用于对电子电路进行测试和调试的行业标准。它提供了一种非侵入式的方法，可以访问电路内部的寄存器和信号。

JTAG 接口：定义和应用JTAG 接口：定义和应用


JTAG 接口：定义和应用


JTAG 接口定义

JTAG 接口通常使用一个 4 针或 5 针连接器，包括以下引脚：

TMS (Test Mode Select)：选择 JTAG 模式。 TCK (Test Clock)：用于同步 JTAG 作的时钟信号。 TDI (Test Data In)：将指令和数据从发送到被测试器件 (DUT)。 TDO (Test Data Out)：从 DUT 中提取数据和响应。 TRST (Test Reset)：复位 JTAG 接口。

JTAG 作

JTAG 接口遵循一个特定的作协议，允许与 DUT 进行交互：

Shift-IR：将指令移入指令寄存器。 Shift-DR：将数据移入或移出数据寄存器。 Capture-DR：将外部数据捕获到数据寄存器。 Update-DR：将数据寄存器中的数据更新到 DUT 中。 Bypass：允许外部设备直接访问 DUT 引脚。

JTAG 的应用

JTAG 接口广泛用于以下应用中：

边界扫描测试：测试电路板上的连接和组件。 内建自测 (BIST)：将测试逻辑集成到芯片中以进行自诊断。 调试：加载代码、检查寄存器并跟踪执行。 编程：配置可编程器件（例如 FPGA 和微）。 故障隔离：识别故障电路并隔离问题。

优点

使用 JTAG 接口的主要优点包括：

非侵入式测试和调试。 自动化测试过程。 降低了测试成本。 改进了产品质量和可靠性。

限制

尽管 JTAG 接口非常有用，但它也有一些限制：

可能存在安全问题，因为它提供了对电路内部的直接访问。 可能增加芯片面积和功耗。 对于某些设备，调试和测试能力可能受到限制。