sem和tem的区别 sem跟tem区别

物理 ：《电子显微术》、《中子显微术》、《质子显微术》，有什么区别？

2、粉末1、观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。样品

这三种的区别在于工作介质的特性不同，由此具有不同的工作方式和适用范围，能给我们带来不同的信息。

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显微镜的作用

SEM利用入射电子在样品表面的相互作用来进行成像，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。

STM利用的量子隧穿效应，将物质表面原子的排列状态转换为图像信息。

简述利用SEM、TEM、FTIR、Raman、CV、EIS、BET、XRD和质谱可获得什么信息？

3、XRD 即X-ray diffraction 的缩写，是X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

SEM：材料的表面形貌光学显微镜：它是通过透过样品的光线来观察样品的微小结构。光学显微镜是研究宏观、生物、材料等领域的常用工具。其主要部分包括物镜、目镜、准直器等。根据不同的光源分为白光显微镜、偏光显微镜等。，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息

TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成

FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等

CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉XRD是X射线衍射，主要用于物相分析（定性与定量），结晶度分析，织构测定，晶体学参数测定等积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压

EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息

BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。

XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。

学电镜是不是坑人

XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线03、扫描电镜（SEM）设备光电子能谱

不是。电镜产品涉及领域具有广泛性和应用性，未来电镜的需求量将继续猛增，学习电镜专业未来前景十分广阔，所以学电镜不是坑人的专业。电镜是指电子显微镜，包括扫描电子显微镜（SEM)和透射电子显微镜(TEM)，主要用于对样品进行表征，SEM主要用于样品的表面微观形貌，也可用于成分分析；TEM常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构。电子显微镜的制造和研究属于应用物理专业。

tem可测磁性包含制样，sem可测磁性包含喷金制样，afm平行测三个位置，xrd不限制元素，tg-dsc温到1600度。

显微镜分为 两大类。

显微镜分为光学显微镜和3.1远程电子显微镜技术 自上世纪九十年代以来，随着计算机技术和网络技术的发展，远程电子显微镜逐渐出现，它可以将实验室现场获得的实时信息展现给远端用户，使其可以通过互联网实时观看样品图像，并远程作仪器来完成实验。[4] 远程电子显微镜技术的关键在于图像的采集、压缩和传输。在图像采集方面，现在的电子显微镜已经有了长足的进步。老式的电子显微镜多采用数码相机和视频采集卡来采集图像，新式电子显微镜多采用VGA采集卡进行图像采集并已成为未来发展趋势。此外运用软件来采集图像的新方式也逐渐出现。早期，图像的压缩使用的是JPEG图像压缩法，即远端用户所见的是一系列的静态样品图像。现在，随着技术的发展，MPEG4和H.264等视频压缩算法被逐渐运用到了样品图像的压缩。现在，样品图像的传输主要通过TCP协议和UDP协议，但其占用带宽过大，传输效果并不理想。为了改善传输性能，专门的数据传输系统“金字塔”式网络传输模型以及专有传输网络正在研究之中，同时这也是现阶段远程电子显微镜的改进方向。 1990年，Carl Zmola等人实现了对SEM的样品图像网络传输，首次建立了远程电镜的样品图像实时传输系统。随后，美国各大学相继建立了各自的SEM远程系统。样品传输的效能也有了长足进步，最初，在800Mb的光纤网络中，样品图像的传输效能是每17秒传送1帧。到了2000年，在1~2Mb的网络中，样品图像的传输可以达到每秒传送5帧。在技术上尚有很大程度的提升空间。 在，尽管各大院校及研究机构中有数千台电子显微镜，但仍不能满足日益增长的应用需求，因此远程电子显微镜技术的研究对于是很有应用价值的。电子显微镜两大类。

光学显微镜是透过样品的光线来观察样品的微小结构，电子显微镜则利用电子束来成像。

电子显微镜：它利用电子流（束）取代了光线成像，分为透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。电子显微镜比光学显微镜有更高的分辨率和更大的深度，可以观察到更加微观的物中子和质子目前技术不是很成熟。质。其主要部分包括电子枪、透镜、探测器等。

光学显微镜是我们生活和学习中常用的显微镜，主要分为简单显微镜和复合显微镜两种。简单显微镜主要用于观察比较大的、透明的样品，如植物、昆虫等。复合显微镜则在光路中加入物镜、目镜等镜片，能够观察更加微小的样品，如细胞、微生物等。

电子显微镜则使用电子束进行成像，分为透射电子显微镜（Tranission Electron Microscope，TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）。透射③、只能观察样品表面形貌，表面以下结构不能探测；电子显微镜可以用于观察物质的内部结构，如原子结构和晶格等，是现代材料科学和天文学等领域的重要工具。扫描电子显微镜则可以观察样品表面形貌和微观结构。

【知识】扫描电镜(SEM)知识大全

【注】由于其他电子的分辨率都没有二次电子的分辨率高，所以扫描电镜的分辨率即为二次电子的分辨率。

扫描电镜(SEM)知识大全如下所示：

01、扫描电镜（SEM）是什么？

SEM如今在材料学、物理学、化学、生物学、考古学、地矿学以及微电子工业等领域有广泛的应用。

02、扫描电镜（SEM）基本原理

扫描电镜是利用电子枪发射电子束，高能入射电子轰击样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、吸收电子、俄歇电子、阴极荧光和特征X射线等信号，通过对这些信号的接受、放大和显示成像，可观察到样品表面的特征，从而分析样品表面的形貌、结构、成分等。扫描电镜主要利用二次电子、背散射电子和特征X射线等信号对样品表面的特征进行分析。

二次电子：

二次电子指被入射电子激发出来的试样原子中的外层电子。二次电子能量很低，只有靠近试样表面几纳米深度内的电子才能逸出表面。因此，它对试样表面的状态非常敏感，主要用于扫描电镜中试样表面形貌的观察。

背散04、扫描电镜（SEM）应用场景射电子：

背散射电子是入射电子在试样中经散射（弹性和非弹性散射）后，再次逸出样品表面的高能电子，其能量接近于入射电子能量。背散射电子的产额随着试样原子序数的增大而增加，所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关，能显示原子序数衬度，可用于对试样成分作定性的分析。

二次电子像和背散射电子像的区别：

二次电子成像是用被入射电子轰击出的样品外层电子成像，能量低，只能表征样品表面，分辨率较高。

背散射电子是入射电子被样品散射然后成像，能量很高，接近入射电子。可以反应样品内部比较深的信息，分辨率相对较低。

特征X射线：

入射电子将试样原子内层电子激发后，外层电子向内层电子跃迁时产生的具有特殊能量的电磁辐射。特征X射线的能量为原子两壳层的能量，而元素原子的各个电子能级能量为确定值，因此特征X射线可用于分析试样的组成成分。

电子光学系统由电子枪、电磁透镜、扫描线圈、试样室等部件组成。电子枪发射的高能电子束经两级电磁透镜聚焦后汇聚成一个几纳米大小的束斑，电子束在扫描线圈的作用下发生偏转并在试样表面和屏幕上做同步扫描，激发出试样表面的多种信号。

电子束与样品室中的样品表面相互作用激发的二次电子，背散射电子首先打到二次电子探测器和背散射电子探测器中的闪烁体上产生光，再经光电倍增管将光信号转换为电信号，进一步经前置放大器成为有足够功率的输出信号，最终在阴极射线管（CRT）上成放大像。

3、观察大试样：它能够直接观察直径100mm，高50mm，或更大尺寸的试样，对试样的形状没有任何限制，粗糙表面也能观察，这便免除了制备样品的麻烦，而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度（背散射电子像）。

4、观察厚试样：其在观察厚试样时，能得到高的分辨率和最真实的形貌。

5、观察试样的各个区域的细节：试样在样品室中可动的范围非常大，可以在三度空间内以6个自由度运动（即三度空间平移、三度空间旋转），可方便观察不规则试样的各个区域。

6、在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电镜观察试样的视场大：大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。

9、进行动态观察：如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件，则可以观察相变、断裂等动态的变化过程，即原位分析。

10、从试样表面形貌获取多方面材料信息：SEM结合能谱可以测定金属及合金中各种元素的偏析，对金属间化合物相、碳化物相、氮化物相及铌化物相等进行观察和成分鉴定；对钢铁组织中晶界处夹杂物或第二相观察以及成分鉴定。

对零部件的失效分析（如畸变失效，断裂失效，磨损失效和腐蚀失效）以及失效件表面的析出物和腐蚀产物的鉴别。对于抛光后的金属样品，扫描电镜结合EBSD可进一步对晶体结构、织构、取向等进行解析。

05、扫描电镜（SEM）分析实例

下图为经抛光腐蚀之后金相样品的二次电子像，可看出SEM图像的分辨率及立体感均远好于光学金相照片。光镜下显示不清的细节在电镜中可清晰地呈现，如珠光体中的Fe3C与铁素体的层片形态及回火组织中析出的细小碳化物等。

下图为ZrO2-Al2O3-SiO2系耐火材料的背散射电子像。由于ZrO2相平均原子序数远高于Al2O3相和SiO2相，所以图中白色相为斜错石，小的白色粒状斜错石与灰色莫来石混合区为莫来石-斜锆石共析体，基体灰色相为莫来石。

3、断口分析

典型功能陶瓷沿晶断裂的二次电子像，断裂均沿晶界发生，有晶粒拔出现象，晶粒表面光滑，还可以看到明显的晶界相。

06、扫描电镜（SEM）样品要求及制备方法

样品制备通常包括取样、清洗、粘样、镀膜处理等步骤。

1、块状样品

清洁样品表面的油污、粉尘等污染物，如可用洗涤剂和进行超声清洗，防止污染物影响分析结果和污染样品室。

对于导电的块状样品，要求大小适合样品座尺寸，用导电胶粘在样品座上即可。对于块状非导电样品或者导电性的样品，则需要先在其表面镀膜，增加样品的导电性，并可防止样品的热损伤。

07、扫描电镜的优缺点

优点

②、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；

③、试样制备简单、样品尺寸相对较大（通常样品室可容纳几十毫米的样品）电子显微镜技术比较发达，目前SEM,STM,TEM等等很多种。、可测试的样品形式多（断口、块体、粉末等）；

④、可配备X射线能谱仪（EDS）、X射线波谱仪（WDS）和电子背散射衍射（EBSD）附件，使分析显微组织、织构、取向和微区成分同时进行。

缺点

①、分辨率不及TEM和AFM（原子力显微镜），不能观察到物质的分子和原子像；

②、试样需置于真空环境下观察，限制了样品的类型；

④、没有高度方向信息；

⑤不能观察液体样品。

在材料的分析方法中透射电镜和扫描电镜有什么区别

两种显微镜不同的成像原理和原件导致它们所能观察的物质范围不同。光学显微镜主要适用于宏观的生物和材料研究，电子显微镜适用于微观的生物和材料研究，例如细胞和分子级别的结构分析。

检测内容：一般的TEM可以做形貌分析，物相分析，结构及缺陷分析，以及判定晶体生长方式等等。SEM主要用于样品的表面形貌分析（二次电子），成分分析（背散射电子），以及成分的点线面分析。对于带有能谱或者其他成分分析附件的TEM也可以做成分分析。制样方法：SEM的样品要求很简单，导电就行，不导电喷碳喷金喷银让他导电；TEM制备样品很复杂，尤其是对接的样品。新手嘛，做一个好的样品，得至少半个月吧。能在这个时间内完成的都是高手！还有……先说这么多！

TEM原理是透射，用于分析物相或表面（倍率较高）。质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱S①、有较高的放大倍数，通常在20-200000倍之间连续可调；EM原理是反射，用于分析表面和成分（如果有能谱的话）。

TEM,EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?

TEM :Tranission Electron Microscop电子显微镜技术发展综述y 透射电镜

EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive2、分析材料断口：SEM景深大，图像富立体感，具有三维形态，能够从断口形貌呈现材料断裂的本质及断裂机理，适合在材料断裂原因、原因、工艺合理性等方面进行分析。 X-ray spectroscopy

FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜

STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜

AFM：Atomic force microscopRaman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。y原子力显微镜

XRD：X-ray diffractionX射线衍射

FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶光谱仪

tem有哪些分析功能

1、二次电子像分析

tem的分中子是中性粒子，具有很强的穿透性，可以深入探测物体内部的结构，同时它可以探测运行中的器件，直观了解其作用模式。析功能如下：

质子是带电粒子，穿透性较强，利用它制成的显微镜可以观察到材料的构成元素在空间范围内的分布情况，这是电子和中子显微镜难以达到的。

2、透射电子显微镜（英语：Tranission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关。

因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。

透射电镜与扫描电镜的衬度来源有何不同？为什么有些结构在TEM是黑色的,而在SEM白色的

SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜

通俗的说 扫描电镜是相当与对物体的照相 得到的是表面的 只是表面的 立体三维的图象 因为扫描的原理是“感sem是扫描电镜，主要用于微观形貌观测及微区成分分析知”那些物提被电子束攻击后发出的此级电子 而透射电竟就相当于普通显微镜 只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光 从而实现了显微 是二维的图象 会看到表面的图象的同时也看到内层物质 就想我们拍的X光片似的 内骨骼什么的都重叠着显现出来 总结就是透射虽然能看见内部但是不立体 扫描立体但是不能看见内部 只局限与表面

总之，透射电镜是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜，主要用于观察和研究物质超微结构。它是材料科学、生物学、医学等领域的重要研究工具之一。