能谱仪的工作原理_能谱仪的基本工作原理

航空γ能谱仪

我国目前使用的航空γ测量装置都是加拿大Exploranium公司生产的256道航空γ能谱仪。一为GR-800D，一为GR-820。后者与前岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、矿石及钍矿石分析者相比，有几点较大改进。

能谱仪的工作原理_能谱仪的基本工作原理

能谱仪的工作原理_能谱仪的基本工作原理

1）GR-820的稳谱技术，是利用天然γ能谱征峰采用软件和硬件相结合的数字化稳谱技术，且分别对单条晶体进行自动稳谱。从总体来看，钍峰（2.62MeV）漂移小于±1道，（GR-800D一般小于±3道），且无需恒温。

2）数字化、可视化、自动化优于G主要测量矿石、土壤中、钍、钾的含量，实现对高放射性矿产找矿勘探的要求。国产的仪器较多，如上海申核电子有限公司的FD-3022四道能谱仪；核地质研究院的H-90B微机γ能谱比活度仪，该仪器更新为HD-2002型便携式γ能谱等。国外的此类仪器有加拿大的GAD-6型γ能谱仪、美国的GR-410型γ能谱仪。表2-16列出了几种谱仪的性能对比。R-800D；GR-820具有适时错误判断系统，出现错误信息即时报警，确保仪器可靠工作。

3）GR-820具有谱图实时显示，有利于空中适时了解γ场变化情况和发现异常（GR-800D要通过作图显示）。

4）GR-820采用线性放电法进行模数转换，其积分非线性和微分非线性优于电压比较法（GR-800D）。

5）能自动计算能量分辨率和峰漂，且具有多种数据输出格式和方式，甚至可按用户需要设置。

GR-820为256道也可以扩展为512道，其结构原理如图4-6-1所示。

图4-6-1 GR-820的结构原理框图

探测器为两箱NaI（Tl）晶体，每箱为五条一样大小方形晶体。其中一个为上测晶体，摆放在四个晶体上面，以下测晶体为地面岩石、土壤放射性γ射线的屏蔽层。每条晶体用隔温材料包装，箱体下面有防震材料，可装在飞机舱底板上。为减小噪声，线性放大器使用专门电源。ADC为线性放电模数转换器。下甄别器阈电压可手调从20～200 keV。上甄别器阈电压设置为4 MeV。4 MeV以上为宇宙射线测量道。每道计数率为65536（16位）。前置放大器是使探测器输出脉冲信号保持不变，进入主放大器（线性放大器），使脉冲幅度线性放大，以利后续处理。本机使用的ADC为50MHz Wikinson线性放电模数转换器，DMA为一个编址存储器，根据ADC输出的数码，给予地址码，使进入道址（+1）。本机使用两个计算机芯片（CPU），主CPU为MPU进行行参数设置，数据收集包括γ谱数据、雷达测高数据、、气压、温度以及显示功能和数据输出系统。SPU为辅助CPU，主要用于稳谱等。DAO为四道模拟输出曲线图系统，以供适时观察。

本机稳谱系统的特点是，上测探测器采用一个低强度（0.01μCi；1Ci=3.7×1010Bq）的铯-137源（662 keV），放置在顶部；下测探测器稳谱采用天然核素钍（2615 keV）和钾（1460 keV）。在空中正式飞行测量时，下测探测器，常采用天然钍峰作自动稳谱。因为地面含量高的时候，钾峰（1460 keV）容易受到干扰，但钍峰基本没有干扰。只是钍峰2615 keV的计数率通常不高，峰值出现“参不齐”；但GR-820在软件计算上作了改进，使钍峰成为的选择。钍峰的计数率只要超过0.5计数/s的地区，就可以用作稳谱。实际使用时：如果整个测区钍峰计数率高于1计数/s，就选用钍峰。如果钍峰小于1计数/s，而钾峰受影响不大，其计数超过2计数/s则可先用钾峰。

如果是海上飞行测量或大部分（60%）测区在海上，虽然钍、钾仍有本底计数，可能计数率过低。可控制一定高度，在海上先飞行30 min，统计30 min读数。如果钍或钾峰值超过300计数/30 min，仍可用以稳谱。如果低于100计数/30 min，这时只能在下测探测器中放入0.01 μCi（1Ci=3.7×1010Bq）的137Cs源或放一小袋（5 kg）钾肥，即可用铯峰（660 keV）或钾峰进行稳谱。

GR-820的所有数据采集都在空中完成。得到输出是一张硬盘。

室内有一台工业计算机（相当于GR-800D的G-714）对硬盘输入的数据进行计算处理，打印出各种图件。

环境扫描的三种主要模式

随着科学技术的不断发展进步，微区信息已经成为了现代物质信息研究的重要组成部分，环境扫描电子显微镜是近年发展起来的新型扫描电镜。它主要用于各种样品的表面形貌观察和成分分析，具有对试样必须干燥、洁净、导电的要求，广泛地应用于生命科学、医学、材料学等诸多学科。本文主要为大家介绍一下环境扫描电子显微镜的工作原理及应用范围。

环境扫描电子显微镜的工作原理

环境扫描电镜(environmental scanning electron microscopy,ESEM)采用多级真空系统、气体二次电子信号探测器等独特设计。观察不导电样品不需要镀导电膜.可以在控制温度、压力、相对湿度和低真空度的条件下进行观察分析含水的、含油的、已污染的、不导电的样品，减少了样品的干燥损伤和真空损伤。

环境扫描电镜有三种工作方式：A）高真空方式(常规方式)；B）低真空方式:0.1~1 Torr；C）环境方式:0.1~20 Torr。

在高真空的常规扫描电镜中，用标准的Everhart Thornley探测器来接受被高能入射电子激发的样品的信号电流(二次电子和部分背散射电子)，经放大后形成图像。

在低真空及环扫模式下，由电子枪发射的高能入射电子束穿过压光阑进入样品室，射向被测定的样品，从样品表面激发出信号电子:二次电子一SE和背散射电子一BSE。由于样品室内有气体存在，入射电子和信号电子与气体分子碰撞，使之电离产生电子和离子。如果我们在样品和电极板之间加一个稳定电场，电离所产生的电子和离子会被分别引往与各自极性相反的电极方向，非导体表面积累的负电荷会与电离出来的正电荷中和而消除荷电。

图1环境扫描电镜中气体放大原理示意图

其中电子在途中被电场加速到足够高的能量时，会电离更多的气体分子，从而产生更多的电子，如此反复倍增。ESEM探测器正是利用此原理来增强信号的，这又称气体放大原理（如图1）。LFD(低真空度模式下使用的探测器)和GSED（环扫模式下使用的探测器）探头接收这些信号并将其直接传到电子放大器放大成电信号去调制显象管或其它成像系统。

ESEM通过不断地向样品室补充气体来维持样品室的低真空，同时也为气体二次电子探测器GSED提供工作气体，水蒸气是常用的工作气体。但是样品室中气体分子的存在对于SEM的成像也有着副作用，由于气体分子对入射电子的散射使部分电子改变方向，不落在聚焦点上，从而产生图像的背底噪音;同时入射电子使气体分子电离，产生电子和离子，也会加大图像的背底噪音.因而偏压电场的电压、方向及电极板的形状，气体状态(种类、压力等)和入射电子路径等因素都会对图像的分辨率产生影响，必须选择适当的参数才能使分辨率的降低保持在小的限度。不同的探测器应有不同的工作参数。

环境扫描电子显微镜主要特点（以FEI Quanta为例）

1、FEI ESEM(环境扫描电镜)技术,可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种样品进行观察和分析。

2、所有真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观分析。

3、先进的系统结构平台，全数字化系统b9827a5e-d07e-4392-b3-100466e5b298。

4、可同时安装能谱仪、波谱仪和EBSP系统。

5、可安装低温冷台、加热台、拉伸台等进行样品的动态观察和分析。

环境扫描电子显微镜技术参数（以FEI Quanta /450/650为例）

1、分辨率:

二次电子:

高真空模式3.0nm 30kV,8nm 3kV

高真空减速模式7nm 3kV(可选项)

低真空模式3.0nm 30kV,10nm 3kV

环境真空模式3.0nm 30kV

背散射电子4.0nm 30kV

2、样品室压力达2600Pa

3、加速电压200V～30kV，连续调节

4、样品台移动范围

Quanta :X=Y=50mm

Quanta 450:X=Y=100mm

Quanta 650:X=Y=150mm

环境扫描电子显微镜代表性工作

图1杆菌(Bar=10μm) 图2球菌(Bar=10μm)

图3酵母菌(Bar=5μm) 图4链霉菌(Bar=5μm)

图5真菌(桦南牛肝菌)(Bar=20μm) 图6污水处理中颗粒污泥表面微生物多样性(Bar=在找矿远景区内通过对eU、eTh、K含量及其比值等分布规律的研究，并结合地质构造、矿化特征和其他物化探异常，圈定找矿远景片。10μm)

图7水稻叶片表面腊质(野生型)(Bar=5μm) 图8水稻叶片表面腊质(突变体)(Bar=5μm)

什么是光谱测金仪

2. 分析范围：能够分析金，铂，银，钯等含量

你好，首先说明光谱测金仪是一种黄金，白金，铂金，白银真和纯度检测仪器，光谱是它的原理，也就是说这种仪器是利用光谱原理来进行工作的。光其中，d为理想状况下电子源汇聚点经过电磁透镜成像后的束斑大小、CS为电镜的球系数、CC为色系数、ΔV为灯丝单色性、V为加速电压、I0为束流、B为灯丝亮度、α为电子束汇聚的张角，λ为电子波长（远小于其它项）。谱测金仪是具有一定能量分辨率的X 射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X 射线，探测器输出信号幅度与接收到的X 射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。

1.对样品无需任何物理和化学处理，即无损检测金银饰品

4. 安全性能指针符合标准要求(光线激发源为 MO靶 X光管)

5.具有温湿度自动补偿功能

6.符合严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式（采用滑盖设计）

7. 全新 32位软硬件系统，工作可靠，效率高

8. 全球率先将先进的摄像技术引入珠宝检测领域。该摄像系统除让首饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外，还可以将首饰被检测到的位置的照片对应于检测结果，连同计算报告一起打印出来。

下面的就是一款常见的光谱测金仪器：

在复合材料原理中扫描电镜的分辨率是多少

从实测岩矿石的γ谱线可知，岩石中、钍、钾三种核素的原始γ谱的异性可显示出来。如图2-38所示，从仪器谱中可以明显看出1.46MeV的谱峰、1.76MeV谱峰和2.62MeV的谱峰；而这正是40K、214Bi和208Tl三个核素的特征峰。它们之间的别是明显的，极易辨认。因此，可以利用这一点，适当选择能谱仪各道的能量范围，即可分别测定岩石(矿石)中、钍、钾的γ射线计数率，然后经过换算(能谱仪标定)即可得、钍、钾的含量。

分辨率是扫描电镜基本的性能判断指标，首先我们要弄清扫描电镜分辨率的一些细节问题。

通常有关分辨率的问题，都会遵循瑞利判据。即一个光点按照衍射理论会是一个衍射斑，两个光点逐步靠近时，对应的衍射斑也从分离趋于重合。当两个衍射斑的半高宽重叠，则认为不可区分了。此时两个衍射斑之间的距离即为分辨率。

但一般单帧图像的仪器才完全符合此规律，比如TEM、光学显微镜等。扫描电镜的分辨率以瑞利判据为基础，但也却略有不同。扫描电镜是属于电子束移动型的，并不完全适用半高宽重合的概念。

扫描电镜的分辨率分为理论分辨率、验收分辨率，和一般测试过程中能达到的分辨率。

1. 理论分辨率

扫描电镜的理论分辨率只能用电子束束斑所能达到的小尺寸来进行描述，其达到样品上的束斑的直径理论上为：

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束斑直径D越小，电镜分辨率越高。我们详细分解一下上述公式：

① 高斯束斑dk项：

在不考虑任何非理想因素时，将电子镜筒完全看成是光学成像。电子源发出的电子在经过透镜、光阑、物镜后，束斑变小，这和光学仪器中的逐次成像基本一致，如图。

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电子束的逐次汇聚成像

根据图中，我们可以得到到达样品上的束流I0为

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其中，αa越小，αj越大，束流越小利用地面γ能谱测量进行高放射性矿产普查，根据要求找矿的详细程度，大致分为区调、普查和详查。各工作阶段比例尺及常用测网见表2-19，也可根据具体任务确定，区调和普查可采用规则测网，也可采用不规则测网，详查测量应采用规则测网。工作底图应使用大于或等于工作比例尺的地形图。。αa对应的光阑大小，αj对应聚光镜的励磁。再根据透镜逐次成像公式，我们得到束斑直径d为

或者根据亥姆赫兹-拉格朗日定则同样得到束斑直径d为

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由公式我们便可得知不同的电子源d0相很大，所以对d乃至实际电子束的直径有很大影响。其次，工作距离越近S越小，汇聚角α越大，聚光镜励磁越强αj越大，光阑孔径越小αa越小，均是有利于减小的束斑尺寸。

从这一点我们也能得出一个简单的结论，在实际作过程中工作距离越小、光阑孔径越小、束流越小，分辨率越高。

氡析出率的测定

1)使用聚集罩时，罩口与介质表面的接缝处应当封堵，避免罩内氡向罩外扩散(一般情况下，可在罩沿周边培一圈泥土，即可满足要求)。对于从罩内抽取空气测量的仪器类型来说，必须更加注意。

66.4.4.1 土壤表面氡析出率的测定

YS/T 240.2－1994铋精矿化学分析方法

方法提要

标准GB50325—2001《民用建筑工程室内环境污染控制规范》规定土壤表面氡析出率测量所须仪器设备包括取样设备、测量设备。取样设备的形状为盆状，工作原理分为被动收集型和主动抽气采集型两种。现场测量设备须满足以下工作条件要求:温度-10～40℃;相对湿度≤90%;不确定度≤20%;探测下限≤0.01Bq/(m2·s)。

测量步骤

首先在建筑场地按20m×20m网格点布点，网格点交叉处进行土壤氡析出率测量。测量时，须清扫采样点地面，去除腐殖质、杂草及石块，把取样器扣在平整后的地面上，并用泥土对取样器周围进行密封，防止漏气，准备就绪后，开始测量并开始计时(t)。

土壤表面氡析出率测量过程中，应注意控制下列几个环节。

2)被测介质表面应平整，保证各个测量点测量过程中罩内空间的体积不出现明显变化。

3)测量的聚集时间等参数应与仪器测量灵敏度相适应，以保证足够的测量准确度。

4)测量应在无风或微风条件下进行。

结果计算(使用聚集罩情况)

用下式求被测地面的氡析出率:

式中:R为土壤表面氡析出率，Bq/(m2·s);Nt为t时刻测得的罩内氡浓度，Bq/m3;V为聚集罩与介质表面所围住的空气体积，m3;A为聚集罩所罩住的介质表面的面积，m2;t为测量经历的时间，s。

66.4.4.2 被动收集型法

(1)径迹蚀刻法

径迹蚀刻法的原理和方法见66.4.1.1中径迹刻蚀法。按下式计算222Rn析出率:

式中:CRn为222Rn析出率，Bq/(m2·s);TD为单位面积222Rn径迹数，个/m2;V为采样小室体积，m3;S为采样小室底面积，m2;R为CR-39刻度因子，m3·(m2·Bq·s)-1;t为放置时间，h。

测量步骤

把CR-39片子剪成"66mm的圆片，铺到"66mm的采样盒小室内密封。采样时把小盒放到"150mm大塑料盒内部顶端，大盒扣到地面，并在地面放氯化钙干燥剂少许，周围用土壤密封、踩实。采样0.5～2h取出小盒，密封带回实验室测量。

(2)活性炭吸附法

方法提要

本法用活性炭累积吸附，γ能谱分析测定建筑物表面氡析出率，适用于建筑物(含建筑构件)平整表面的氡析出率的测定。各种土壤、岩石表面的氡析出率的测定可参照使用。

仪器和设备

γ能谱仪探测器①闪烁探测器NaI(Tl)由不小于"7.5cm×7.5cm的圆柱形NaI(Tl)晶体和低噪声光电倍增管组成，探测器对137Cs的661.6keVγ射线的分辨率应优于9%。②半导体探测器Ge(Li)或高纯锗(HPGe)其灵敏体积大于50cm3，对60Co的1332.5keV特征γ射线的分辨率应优于2.2keV。

屏蔽室应选用放射性核素含量低且无表面污染的屏蔽材料，探测器应置于壁厚不小于10cm铅当量的屏蔽室，屏蔽室内壁距探测器表面的小距离应大于13cm，铅室的内衬应由原子序数逐渐递减的多层屏蔽材料组成，从外向里可依次由1.6mm镉、0.4mm铜及2～3mm厚的有机玻璃材料等组成。屏蔽室应有便于取放试样的门。

高压电源应有保证探测器稳定工作的高压电源，其纹波电压不大于±0.01%，对半导体探测器高压应在0～5kV范围内连续可调。谱放大器应有与前置放大器及脉冲高度分析器匹配的具有波形调节的放大器。脉冲高度分析器，NaI(Tl)γ谱仪的道数应不少于256道，对于高分辨半导体γ谱仪其道数应不小于4096道。γ谱仪可以与专用或通用微机联接，进行计算机在线能谱数据处理，亦可以用计算器人工处理。

测量步骤

活性炭盒的制备:将活性炭置于烘箱内，在120℃下烘烤7～8h，以去除活性炭中残存的氡气。将烘烤过的活性炭装满活性炭盒容器，称量，各炭盒间质量应小于0.5%，然后加网罩，加盖，密封待用。留1～2个新制备的，没有暴露于氡和子体的活性炭盒(简称“新鲜”炭盒)于实验室中，作为本底计数测量用。

析出氡的收集:去除实际欲测建筑物表面的灰尘和砂粒。打开活性炭盒，倒扣于该表面，周围用真空泥固定和封严，记下开始收集析出氡的时间。析出氡收集持续5～7d。收集结束时，除去真空泥，小心取下活性炭盒，加盖密封，记录结束时间，带回实验室。

氡的测量:用226Ra检验源检查和调整γ谱仪使之处于正常工作状态。在与试样测量相同的条件下，在γ谱仪上测量“新鲜”活性炭盒的本底γ能谱。收集结束后的活性炭盒放置3h以上。当用高分辨γ谱仪时，测量214Bi的0.669MeV、214Pb的0.241MeV、0.295MeV和0.352MeV其中的一个或几个γ射线峰计数率;当用NaI(Tl)γ谱仪时，测量上述能量相应能区的计数率。

按下式计算建筑物表面氡析出率:

式中:R为氡的面积析出率，Bq·m-2·s-1;nc为活性炭盒内所选定的氡子体γ射线峰或能区的计数率，s-1;nb为与nc相对应的“新鲜”活性炭盒的计数率，s-1;t1为活性炭盒收集析出氡的时间，s;t2为收集结束时间到测量开始时间的时间间隔，s;ε为与nc相应的γ射线峰能量或能区处的探测效率;S为被测表面的面积，m2;λ为氡的放射性衰变常数，2.1×10-6s-1。

探测效率刻度

体标准源的制备:标准源基质与活性炭盒所用的活性炭种类相同且等量。称取由法定计量部门认定的已知比活度的碳酸钡镭标准粉末(至0.0001g)，其总活度应在50～500Bq范围内，比活度的相对标准偏不大于4%。将标准粉末置于500mL烧杯中，以1mol/LHCl溶解，再用0.1mol/LHCl稀释到所需体积(应足以使活性炭基质全部浸入)，倒入活性炭颗粒，并不断搅拌;将活性炭在灯下烘烤，使其水分不断蒸发，在将近恒量时，转移到另一干净烧杯中，用少量0.1mol/LHCl洗液清洗用过的500mL烧杯，将清洗液倒入活性炭中(注意不要与目前盛放活性炭的干净烧杯壁接触)，再用灯烘烤，不断搅匀，直至恒量。将活性炭转入空的活性炭盒内，铺平，加盖，密封，放置30d。待226Ra与氡及其子体处于放射性平衡后备用。标准源的综合不确定度(一倍标准偏)应控制在±5%以内。

刻度

按照使用说明书的要求正确安装和调整γ谱仪系统，包括探测器、电源、前置放大器、谱仪放大器、脉冲高度分析器和计算机系统，使其处于工作状态。在与试样测量相同条件下，分别获取上述已知226Ra活度的体标准源γ能谱和“新鲜”活性炭盒本底谱。从净谱中选择氡的子体214Pb的0.241MeV、0.295MeV、0.352MeV以及214Bi的0.669MeV中的一个或几个γ射线的全能峰，并计算其净峰计数率。如果使用NaI(Tl)闪烁探测器，在上述几个γ射线峰不能清楚分开时，亦可计算包含上述一个以上峰的能区净计数;根据所选γ射线的全能峰(或所选能区)净计数率，计算探测效率。

测量的相对标准偏

面积氡析出率测量结果的相对标准偏为:

式中:σtotal为总相对标准偏，%;σcalib为效率刻度的相对标准偏，%;σct为测量计数相对标准偏，%。

σct可用下式计算:

式中:Ns为活性炭盒内选定的氡子体γ射线峰或能区的积分计数;Nb为与Ns相对应的“新鲜”活性炭盒的积分计数;ts为试样计数时间;tb为本底计数时间。

建筑物表面氡析出率的探测下限

主要取决于所用γ谱仪的探测下限，该探测下限是在给定置信度情况下该系统可以测到的活度。以计数为单位的探测下限可表示为:

式中:C(LLD)为探测下限;Kα为与预选的错误判断放射性存在的风险概率(α)相应的标准正态变量的上限百分位数值;Kβ为与探测放射性存在的预选置信度(1-β)相应的值;σ0为净试样放射性测量的计数统计标准偏。

对于各种α和β水平，K值列于66.13。

表66.13 各种α和β水平对应的K值 如果α和β值在同一水平上，则Kα=Kβ=K0

以计数率为单位的探测下限，是在给定条件下，小可探测的计数率。如果活性炭盒内氡的放射性活度与本底接近时，小可探测计数率为:

式中:C(LLD，cT)为小可探测计数率;tb为本底谱测量时间;Nb为本底谱中相应于某一全能峰或能区的本底计数。

根据小可探测计数率，按式(66.36)可以计算出小可探测表面氡析出率。

干扰和影响因素

1)活性炭盒倒扣于建筑物表面，所得结果不代表自然状态下氡的析出率，而相当于外界空气中氡浓度为0时氡的析出率，即析出率。这种方法不考虑外界空气风速、交换率的影响。但可能引起活性炭盒所扣处被测材料局部含水量的变化，对氡的析出率产生微小干扰。

2)在收集析出氡期间，面积氡析出率实际上受周围环境的气象、温度、湿度、气压、风速变化等影响，因此，测量结果只代表在对应的环境条件下收集期间内面积氡析出率的平均值。

3)在用NaI(Tl)γ谱仪确定活性炭盒所收集的氡活度时，氡子体214Pb的0.242MeVγ射线峰受Th射气子体212Pb的0.238MeVγ射线峰的干扰;该干扰对测量结果的影响小于1%，用高分辨率的半导体探测器测量，不存在这种干扰。

注意事项

1)这种方法的优点是布样方便，无源，不用维修，可重复使用，适合大规模的氡调查。具有测量结果稳定，受环境因素影响小，探测器被动式测量，不需电源，测量简单。活性炭具有良好的吸附性能和稳定的化学特性，可以耐强酸和强碱，能经受水浸、高温、高压的作用，不易破碎，气流阻力小，便于应用。缺点是活性炭对氡的吸附并非完全积累过程，因此采样结束前的氡浓度对平均结果的影响较大，只能用于短期测量(2～7d)。普通型采样器受温、湿度影响较大，但改进型的采样器则不受温、湿度的影响。

2)还有一种利用解析原理的活性炭吸附法，该方法将活性炭吸附的氡通过加热解析到电离室或闪烁室中进行测量。

3)活性炭吸附法测氡析出率的采样装置有许多，如图66.17所示，它由采集桶和活性炭盒(加滤膜)组成，通过测量活性炭的氡浓度来计算氡析出率。有的采样器采用铝质结构，轻便、抗腐蚀，采样器大小恰好与测量仪器探头的尺寸匹配。采样器分为上下两部分，有螺纹可以衔接。上部分为活性炭室，炭床表面放置一金属网，用于固定活性炭，网眼尺寸与活性炭粒度相匹配，装填活性炭时金属网可取下。下部为储气室，呈管状，与上部内径相同。由于针的半衰期很短，选择的储气室高度足以使针射气衰减掉。在上下两部分之间放置一烧结金属过滤器，烧结金属过滤器可取下，测量时过滤器由采样器内侧车床车出的1.5mm的沿托住，起到过滤湿气的作用，防止活性炭吸潮后吸附效率降低，图66.18为该采样器示意图。

图66.17 常用的采样装置示意图 图66.18 采样器示意图A—活性炭室;B—储气室

(3)驻极体收集法

方法提要

图66.19 驻极体收集法测量装置结构原理图

测量装置

驻极体收集法氡析出测量装置由采样小室、驻极体探测盒组成。结构原理见图66.19。采样盒是1个圆柱形塑料筒，盒顶部装有驻极体探测盒。被测表面析出的氡在盒内衰变时形成2l8Po粒子，在驻极体电场作用下，2l8Po粒子大部分被吸附在探测器表面。2l8Po衰变时发射的α粒子会使驻极体的表面电荷特性发生变化。利用驻极体表面电位测量仪记录这种变化，经过刻度就可确定待测空气中的氡浓度。根据其氡浓度可确定氡的析出水平，即氡析出率［Bq/(m2·s)］。因驻极体静电场对氡子体的收集效率受空气湿度影响，盒内放干燥剂，可保持恒定的收集效率。

测量步骤

测量时将收集装置扣在待测材料表面，周围用浮土埋好密封。在采样结束后将驻极体探测盒用驻极体保护盖密封起来，用驻极体读数仪读出各自结束的读数并记录。

注意事项

方法灵敏度高，采样周期短，作方便，可成批采样。采样点分布不太分散时，用30个采样小室一天可采100多个氡析出率试样。

(4)局部静态法

方法提要

局部静态法是测量暴露表面氡析出率的一种方法。该方法为瞬时测量法，有很高的灵敏度，取样时间短，而且设备简单，适合于测量大地、建筑物表面的极低的氡析出率。其受气象等因素影响大，测量重现性。其工作原理是:用不透气的板材制成的氡收集器倒扣在被测物的表面上，四周用密封材料封好，这时被测物表面析出的氡将被收集在收集器和被测物表面共同包容的收集空间里，这样便可根据收集空间里氡体积活度的变化计算确定氡析出率。

测量装置

局部静态法测量装置由一个由不透气的材料制成积累箱和氡收集器组成。积累箱用有机玻璃制成，尺寸0.735m×0.530m×0.058m。

测量步骤

用积累箱开口一侧紧贴待测物体表面，周围用密封材料密封，构成积累箱，经一定时间后采集箱内气体，进行氡活度分析，分别计算出氡的析出率。

66.4.4.3 主动抽气采集型法

(1)双滤膜法

方法提要

双滤膜法是一种测氡方法，它是通过测量氡在衰变筒内新生子体的α辐射强度以达到测氡的目的。双滤膜法测量的直接对象是氡的短寿子体的α射线，由于衰变链中的氡与其子体之间有着确定的比例关系，所以通过测定其短寿子体的α射线强度就可以求得析出的氡量，从而计算出氡析出率。

测量装置

双滤膜法测量氡析出率的装置见图66.20。

图66.20 双滤膜法测量装置示意图

FT-648测氡仪是测量大气氡的常用仪器，测量时将入气口和进气口与积累腔连接即可。积累腔厚约3mm，扣地面积1.77m2，腔体容积210L。远大于衰变筒14.8L的容积，满足测量要求。

测量步骤

先平整测点处的地面，除去杂草。然后扣上积累腔，其周围用掺水的黏土封堵。此道工序必须认真做好，因封堵不严会导致氡泄漏过大;否则就失去了测量的基础。

1)以积累腔开始封闭的时间作为积累时间的起点，并以测量点所在地的大气氡浓度作为t=0时积累腔内的起始浓度。

3)仪器刻度采用与测量时相同的间隔时间测量。

(2)静电收集法

方法提要

当被测物体表面析出的氡进入收集室后，其衰变产生的带正电的氡子体在收集室壁+0V高压的作用下被收集到探测器表面，α谱仪根据探测到的不同能量α粒子的计数给出α能谱，微处理器和计算芯片根据α能谱识别出218Po和216Po特征峰，并根据系统参数计算出222Rn和220Rn浓度，再计算出氡析出率。

测量装置

以德国TRACERLAB公司生产的ERS-2型静电收集式氡采样器为例，这是一种主要为测量土壤或建材表面氡钍射气析出率而设计的仪器，同时也具有连续测量氡钍射气浓度的功能。仪器具有一个和仪器主体一体化的金属制半球形的集氡腔，体积1.55L，有效半径166mm，金属腔壁上连有0V正高压。ERS-2型仪器测量222Rn、220Rn析出率示意图如图66.21所示。

主要性能参数

1)仪器放置在有弹簧垫圈的铝制手提箱中，方便运输和野外作。

2)具有一个和仪器主体一体化的金属制半球形的集氡腔，体积1.55L，有效半径166mm，金属腔壁上连有0V正高压。

3)可以使用100～240V的交流电源或有着连续使用12h左右容量的自带电池为仪器供电。电池的充电时间与使用时间相同，如可以一次性充电8h，然后连续使用8h。

4)仪器可以按照事先选择好的测量周期(1～9999min)存储大于750个周期的完整的α计数谱数据和氡钍射气浓度数据，以备以后读出，其存储器断电后数据不会丢失。

5)仪器使用的是金硅面垒型(PIPS)α探测器和256道多道计数器，测量结果的评价和计算由α谱仪给出的α计数谱完成(见图66.21)。ERS-2具有快速响应、效率高的特点，仪器自带的微处理器和计算芯片将实时给出以Bq/m3为单位的222Rn和220Rn浓度。

图66.21 ERS-2型仪器测量222Rn、220Rn析出率示意图

6)仪器自带流量10～75L/h的气泵，可用于连续测量222Rn或220Rn浓度时将待测气体泵进密封的集氡腔。对于析出率测量，只需把集氡腔密封盖去掉，仪器放置在待测表面即可。

7)仪器具有一个可以实现实时显示氡浓度数据、显示系统参数、设置测量周期，和控制仪器本身与气泵的开关等多项功能的触摸式液晶作键盘。

8)仪器可以通过RS-232接口与PC机实现实时在线数据交换。PC机可以通过超级终端读取存储器上按周期储存的以Bq/m3单位的222Rn和220Rn浓度数据并保存成文本文档，还可以通过超级终端对仪器实行设置系统参数、清空存储器等多项命令。

9)氡析出率的计算，将在PC机上通过提供的数据处理软件完成。该软件读入超级终端保存好的数据文本，经过计算后给出以mBq/(m2·s)为单位的氡析出率值。对于220Rn析出率的计算，由于220Rn半衰期很短，实测数据中很难观察到其线性增长与指数增长的过程，所以软件只采用平台估计法计算220Rn析出率。

测量步骤

1)将充好电的ERS-2仪器集氡腔密封盖取下，在腔口放置好密封用的硅胶圈，把仪器放在事先平整好的地面上，周围用浮土埋好密封。

2)开启电源、高压，设置测量周期T=10min，开始测量并记录起始测量时间与起始周期序数。

3)测量约4～5个周期，关高压、电源并记录终止周期序数。用泵冲洗集氡腔内残余氡气。

4)连接ERS-2与PC机，通过超级终端读取本次测量起始周期与终止周期之间的各周期谱数据或氡浓度数据，保存成文本文档。

5)在PC机上打开数据处理软件，读入文本文档中数据，观察数据点变化趋势，选择拟合起止点，选择线性拟合方式，记录软件给出的氡析出率值。

6)当仪器显示的周期序数接近750时，用PC机通过超级终端发出清空仪器存储器的命令清理数据。

航空地球物理勘探的方法

应用广的航空物探方法，又称航空磁测或航空磁力勘探，简称航磁。目前航空磁测用的仪器有两类，一类是测总磁场模数的变化△T，另一类是测总磁场模数变化的梯度。目前在生产中应用的测总磁场模数变化的仪器主要是核子旋进磁力仪和光泵磁力仪，也有用磁通门磁力仪的（见磁法勘探）。测总磁场模数变化梯度的是航空磁力梯度仪。它用距离固定的两个磁力仪探头（如光泵磁力仪探头），同时测量检测标准：地磁场并记录其值（即驻极体收集积分测量法是一种多功能快速测量法。既能测定量体积活度，又能测定量析出率。仪器的采样小室是一个上部封口的塑料桶，其中装有驻极体探测器，下部有一个过滤窗底盘。将未装底盘的采样小室直接扣在被测物的表面，即可实现对量析出率的测量。磁力梯度，可测垂直梯度或水平梯度），一般灵敏度约达3×10-4～5×10-4纳特/米。航空磁法在地质工作中应用较为广泛，用于以下几个方面的地质效果较好。

电子探针X射线微区分析的电子探针工作原理

活性炭盒(容器)采用低放射性材料(如聚乙烯、有机玻璃、不锈钢等)制成的内装活性炭的圆柱形容器，其底部直径应等于或稍小于γ探测器的直径，高度以直径的三分之一到三分之二为宜;活性炭选用微孔结构发达、比表面积大、粒径为18～28目的优质椰壳颗粒状活性炭;网罩选用具有良好透气性的材料，如尼龙纱网、金属筛网或纱布，罩于活性炭盒开口表面，网罩栅孔密度应与活性炭粒径相匹配;真空封泥用于密封活性炭盒和待测介质表面之间的缝隙，固定它们之间的相对位置。

电子探针（Electron Probe Microysis-EPMA）的主要功能是进行微区成分分析。它是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发放射性勘探方法展起来的一种高效率分析仪器。

光谱定性分析的基本原理是什么

2)采样测量时间t可以在0到2h之间任选，工作方法是15'+1'+30'的方式(即15min采样，1min换位，30min累计计数)，对不同的地点作氡析出率测量。

光谱定性分析的基本原理是：由于各种元素的原子结构不同，在光源的激发下，可以产生各自的特征谱线，其波长是由每种元素的原子性质决定的，具有特征性和性，因此可以通过检查谱片上有无特征谱线的出现来确定该元素是否存在。

将要检出元素的纯物质或纯化合物与试样并列摄谱于同一感光板上，在映谱仪上检查试样光谱与纯物质光谱。若两者谱线出现在同一波长位置上，即可说明某一元素的某条谱线存在。本方法简单易行，但只适用于试样中指定组分的定性。

扩展资料：

具体作如下：

1、将纯铁和试样并列摄谱于同一感光板上；

2、将谱板在映谱仪上放大20倍；

3、首先使纯铁光谱与标准光谱图上某些铁光谱重合。若试样光谱上某些谱线和图谱上某些元素谱线重合，就可以确定谱线的波长及所代表的元素。检测标准：标准光谱图比较法可以同时进行多种元素的定性分析。

当上述两种方法均无法确定未知试样中某些谱线属于何种元素时，可以采用波长比较法。即准确测出该谱线的波长，然后从元素的波长表中查出未知谱线相对应的元素进行定性。

参考资料来源：

发射光谱的产生，是由于物质受到火焰、电弧、电火花激发时原子中的电子从稳定态吸收了能量，跳跃到激发态，又从激发态回到稳定态放出能量，而产生了一系列的光谱线。

一个元素的光谱线很多，不能一条一条去找，也不能随便取几条。所以就选择一些特征光谱线来分析，即所谓分析线。分析线要具有两个要求，一是要灵敏，二是不与其他元素线重合。

扩展资料：

光谱分析的分类：

1、原子吸收光谱法——也叫湿法分析。它是以待测元素的特征光波，通过样品的蒸发，被蒸发中的待测元素的基态原子所吸收，由辐射强度的减弱程度，来测定该元素的存在与否和含量多少；通常是采用火焰或无火焰（也叫等离子）方法，把被测元素转化为基态原子。根据吸收光波能量的多少测定元素的含量。

2、原子发射光谱法——利用外部能量激发光子发光产生光谱。看谱分析法就是原始的、也是经典的利用原子发射光谱的分析方法。看谱分析法在我国工业生产上的使用是在上世纪50年代，58年永定机械厂制造了台仿技术的看谱仪，随后天津光学仪器厂成为我国大量生产棱镜分光的看谱镜基地。

参考资料来源：

地面步行γ能谱测量

锡精矿（15个参数）（吸附水、锡、铁、铜 、铅、砷、锑、铋、锌、钨、硫、氧化铝、二氧化硅、氧化酶、氧化钙）

(一)地面步行γ能谱测量的基本原理

图2-38 U、Th、K的能谱分布示意图

一般地面γ能谱仪器选择下列四个能量窗：

钾道：1.35～1.55MeV；道：1.65～1.95MeV；钍道：2.5～2.7MeV；总道：0.3～3.0MeV。

总道给出的是计数率(cps)或当量含量10-6)。其余三道测量出各道的计数率N1、N2、N3，由此可列出以下联立方程：

式中：Ni为各道计数率(常以i=1为U道，i=2为Th道，i=3为K道)；QU、QTh、QK分别为岩石中、钍、钾含量；ai、bi、ci为、钍、钾各道的灵敏度系数，各灵敏度的定义如下：

表示在饱和条件下，单位(或钍、钾)含量在、钍、钾各道中的读数。如a1即表示单位含量在道的计数，即a1=N1/QU，这里的QU是饱和模型的含量，N1是仪器在饱和模型上测量时道的读数。

解(2-96)式构成的线性方程组，得

式中：

即可计算测量测区岩(矿)石中、钍、钾含量。灵敏度系数ai、bi、ci可在标准饱和模型上进行测定，详见能谱仪的标定。

(二)测量仪器

1.仪器种类

γ射线能谱仪利用的是探测器输出的脉冲幅度与γ射线的能量之间的线性正比关系。图2-39是γ射线能谱仪的方框图。脉冲振幅被放大和数字化后，经脉冲幅度分析器甄别分析，使能谱仪输出所探测到的γ射线的能谱。由于每个放射性核素能发射出特定的γ射线能量，所以可以用γ射线能谱仪来判断辐射源是什么。

图2-39 γ射线能谱仪框图

γ射线能谱仪分为“积分”式或“微分”式。积分能谱仪记录超过某阈值的脉冲幅度射线。此阈值可以依允许的某个放射性核素的临界值而调节。微分γ射线能谱仪记录幅值范围内(或道)上脉冲，它们对应于γ射线的相应能量范围。

相对于每个道址，较宽的能量间隔称为能量窗口。目前较多分析仪使用多道，如256道或512道，甚至更多，每道具有几千电子伏。也可使用开窗方式，这种能谱仪是将能窗限制在记录某几个特定能量范围。γ射线能谱仪幅度增益稳定，可以避免能量谱漂移。人们可以通过控制探测器的温度，或通过使用一个参考放射源的能谱或已测量能谱来实现能量稳定增益。

(1)便携式四道γ能谱仪

表2-16 几种国内外四道γ能谱仪的性能对比

(2)便携式多道γ能谱仪

主要可用于野外地质找矿和环境监测。它测量的能谱范围大，从256道至1024道、2048道，可显示一次测量的谱线，采用相应的程序进行放射性含量的计算。主要仪器有H-40A微机γ能谱仪(256道)、HDY-256便携式γ能谱仪(256道)、HD-2000智能γ能谱仪(256道)、NP4-2伽马射线能谱仪(512)、CD-10野外γ射线全谱仪(2048道)、HF-C便携式微机多道能谱仪(256道)。国外的此类仪器有加拿大的GR-320地面能谱仪，美国生产的DigDART便携式γ能谱仪、高纯锗γ能谱仪。表2-17列出了几种多道能谱仪。

表2-17 几种轻便多道γ能谱仪

2.能谱仪的标定

能谱仪标定的目的有二：其一是确定总道Tc的格值，这与辐射仪确定格值是一样的。其二是为了准确测定γ能谱仪的换算系数Ai、Bi、Ci(i=1，2，3)。换算系数准确与否，直接影响仪器测定eU、eTh、K含量的准确度。除了新仪器启用、仪器大修后以及野外工作之前要对仪器进行校准外，在野外工作期间，在更换了探测元件(如晶体、光电倍增管等)，变更了分析器甄别阈，以及一切可能使能谱仪的换算系数发生变化的情况下，均应重新校准仪器，通常情况下应每年对仪器进行一次校准。

换算系数的测定必须在、钍、钾饱和模型上进行，然后在混合模型上检验仪器测定eU、eTh、K含量的准确度。

在模型上测量时，将探头先后置于各模型的中心位置，读取仪器各道(窗)的计数率。每次读数的测量时间为1～2min。每个模型上，每个道(窗)至少取用10个落在2倍标准误以内的读数，取其平均值。根据测量结果及模型的定值含量计算换算系数。具体步骤如下：

(1)根据地面γ能谱测量原理，可建立三元一次方程组

式中：NU、NTh、NK分别为能谱仪测得的、钍、钾道(窗)计数率(扣除仪器放射性本底后)；QU、QTh、QK分别为测量对象中的eU、eTh、K含量，单位分别为1×10-6eU、1×10-6eTh、%K；ai、bi、ci(i=1，2，3)分别为能谱仪各道(窗)对、钍、钾的灵敏度，单位分别为：计数率/1×10-6eU、计数率/1×10-6eTh、计数率/1%K，其下标1、2、3分别对应于能谱仪的、钍、钾道(窗)。

在饱和、钍、钾模型上进行测量，每个模型上均可以建立上述三个方程。根据这三个模型上建立的九个方程可以解出九个灵敏度：

放射性勘探方法 放射性勘探方法

式中：(U)、(Th)、(K)分别表示、钍、钾模型。

(2)换算系数的计算公式

为了便于计算含量，通常采用以下含量计算公式：

式中：Ai、Bi、Ci(i=1，2，3)为换算系数。

根据饱和、钍、钾模型上测量的结果，每个模型均可建立上述三个方程。从三个模型上建立的九个方程可以解出这九个换算系数：

放射性勘探方法 放射性勘探方法

放射性勘探方法 放射性勘探方法

放射性勘探方法 放射性勘探方法

放射性勘探方法 放射性勘探方法

式中：

利用公式(2-110)和上述九个换算系数，即可从、钍、钾道(窗)的计数率换算出eU、eTh、K含量。

3.仪器的三性检查

(1)短期稳定性检查

(a)在开h内，在混合工作模型上等时间间隔读取n个读数(n≥30)，每个读数时间不少于1min。各道均应满足下式：

式中：Ni为同一道中第i次读数； 为同一道中n个读数平均值；G为归一化恢复系数，它是仪器读数的测量时间t0与归一化时间t的比值

(b)连续读取n个底数，n≥30，每个读数时间1min，各道均应满足(2-121)式。

(c)在混合工作模型上连续取n个道和钍道读数，在钾工作模型上连续读取n个钾道读数，n≥30，每个读数时间为1min，各道读数均应满足(2-121)式。

(2)准确性检查

仪器对标准饱和混合模型测量后计算的含量，与该混合模型的已知含量间的允许误范围见表2-18。表中低含量的允许误以误要求，高含量的以相对误要求。

表2-18 准确度检查的允许误

(3)一致性检查

由一级模型站(现在称计量站)负责统一对一级模型站和各二级模型站建立一条标准剖面，并给出、钍、钾含量。标准剖面设在五个标准饱和模型的一个旁侧，剖面上等间距设立n个测点，n≥25，并做出醒目标记。

被检查的仪器对标准剖面测量的结果，与标准剖面的已知含量间进行一一对比检验。同一对数据的值为xi(i=1，2，…，25，26)，依下式计算这些值的平均数 ：

再计算 的标准离 ：

对于自由度f=n-1，取量信CCD区间为95%，由t分布表(数学手册)查得t值。当|X|≤t· 时，则可判断为可以使用；否则，需查明原因，或重新标定仪。

4.仪器本底的测量

与地面γ辐射仪一样，见前述。可在水面上测量，也可用铅屏法。一般用水面法。

(三)野外测量方法

1.工作比例尺的选择

(1)区调

测量工作区内eU、eTh、K含量，计算其比值，了解它们的分布规律，研究区域地质背景和成矿地质条件，为预测找矿远景区及地质填图提供基础资料。

(2)普查

表2-19 各工作阶段比例尺及常用测网

(3)详查

通过对远景片内eU、eTh、K含量及其比值的分布特征的综合分析，进一步圈出富地段和其他矿产的矿化蚀变范围，查明矿或其他矿产的成矿地质条件、矿化特征及控制因素，划出需揭露的远景段，为工程部署提供依据。

2.路线测量或面积测量的一般程序

与γ总量测量大体相同，主要有：

1)将仪器置于正常工作状态，主要是特征能量峰窗口的选择、道宽的选择。

2)测点选择是将仪器的探头放在比较平坦基岩露头上，要注意几何条件的一致性。

3)视仪器探头晶体体积大小及测量对象的含量高低确定测量时间。若仪器探头晶体为φ75mm×75mm的规格及被测含量为正常情况时，测量时间为1min取一次读数，当发现异常时取两次读数，每次1min，其允许误：当eU≤10×10-6时，误为2×10-6；当eU>10×10-6时，相对误±10%，当eTh≤25×10-6时，误为3×10-6；当eTh>25×10-6时，相对误为±1%，K的误为1%。

4)仪器工作期间每隔2h进行一次仪器工作状态的有关参数检查，其结果必须记录。

5)出工前要把已知的地层(岩性)、岩体界线、构造位置、各类异常事先标在地形图上，在沿路线测量时，认真观察地质现象。

6)在测区内，对各种地层单元或岩性，均匀地取n个有代表性的样品(n>30个)分析、钍、钾及伴生元素，按项目要求，提供镭平衡的研究资料等。

7)测量工作提交以下资料：①实际材料图；②野外原始记录；③仪器工作状态有关参数。

8)野外异常测量：当遇到异常时(大于异常下限)，应对异常进行追索，工作程序如下：

(a)检查仪器工作是否正常；

(b)如仪器工作正常，进行重复测量；

(c)观察地质现象；

(d)按一定的加密点线距进行测量，追索异常；

(e)在记录本上记述异常位置，赋存地层及岩性，控制因素，围岩蚀变，矿化特征，异常形态、规模、性质等；

(f)在异常部位取样，进行、钍、钾及伴生元素分析，必要时应做岩矿鉴定；

(g)对异常进行评价，并提出进一步工作意见。

3.质量检查

(1)野外仪器检查

(a)仪器的野外短期稳定性检查；

(b)仪器的野外长期稳定性检查。

(2)路线检查

检查路线主要分布在成矿有利或对工作质量有怀疑的地方，以互检方式进行，检查工作量：区调阶段5%，初查和详查阶段10%。单个点误要求如下：eU≤10×10-6时，误为2×10-6；当eU>10×10-6时，相对误±10%；当eTh≤25×10-6时，端≤3×10-6；当eTh>25×10-6时，相对误为±10%；K含量误以误衡量，端≤1%K的测点为合格测点，合格率应不低于70%。

(3)异常点(带)检查

具有矿化及有地质意义的点(带)进行检查，一般异常点(带)检查50%。

矿物成分分析方法

3. 分析准确度：比传统检测效果更，

一、有色金属矿（13品种）

3092e3da-4576-48c2-acf8-3bee3b2828cb

1、检测产品：

铜矿石（21个参数） （铜、铅、锌、镉、镍、钴、砷、铋、钼、钨、铬、硫、镓、锗、硒、碲）铜矿石物相分析： （硫酸铜、自由氧化铜、结合氧化铜、硫化铜）

GB/T 14353.(1～16)－1993铜矿石化学分析方法

DZG20.01－19《岩石矿物分析》铜矿石物相分析

2、检测产品：

锡矿石（4个参数）（锡）锡矿石物相分析：（锡石、黝锡矿、胶态物中）

GB/T 15924－1995锡矿石化学分析方法

DZG20.01－19《岩石矿物分析》锡矿石物相分析

3、检测产品：

锌矿石（21个参数）（铜、铅、锌、镉、镍、钴、砷、铋、钼、钨、铬、硫、镓、锗、硒、碲）

GB/T 14353.(1～16)－1993锌矿石化学分析方法

4、检测产品：

多金属矿石（14个参数）（铜、铅、锌、镉、镍、钴、砷、锑、铋、汞、锡、钨、钼、硫）

DZG 93－01有色金属矿石分析方法

5、检测产品：

汞矿石（2个参数）（自然汞、）

DZG 20.01－19《岩石矿物分析》汞矿石物相分析

6、检测产品：

镍矿石（4个参数）（镍）镍矿石物相分析：（硫酸盐镍、硅酸盐镍、硫化物镍）

GB/T 15923－1995镍矿石化学分析方法

DZG 20.01－19镍矿石物相分析

7、检测产品：

钴矿石（4个参数）（钴）钴矿石物相分析：（硫化物钴、氧化物钴、难溶矿脉中的钴）

GB/T 15922－1995钴矿石化学分析方法

DZG 20.01－19钴矿石物相分析

8、检测产品：

铋精矿石（11个参数）（铋、铅、二氧化硅、氧化钨、钼、铁、硫、砷、铜、铝、银）

9、检测产品：

锑矿石（7个参数）（锑、砷、铅、锌、硒、硫、金）

GB/T 15925－1995锑矿石化学分析方法

DZG20.01－19《岩石矿物分析》锑矿石物相分析

10、检测产品：

GB/T (1819～1833)－1979锡矿石中XXX的测定

11、检测产品：

钼矿石（23个参数）（钨、钼、铜、铅、锌、铬、钴、镍、硫、砷、铋、银、锡、镓、锗、硒、碲）钼矿石物相分析：（氧化物总量、硫化物总量、钼华、钼（钨）钙矿、钼酸铅矿）

GB/T 14352.(1～18)－1993钨矿石、钼矿石化学分析方法

DZG 20.01－19钼矿石物相分析

12、检测产品：

钨矿石（20个参数）（钨、钼、铜、铅、锌、铬、镍、钴、砷、铋、硫、锡、银、镓、锗、硒、碲）钨矿石物相分析：（钨华、白钨矿、黑钨矿）

GB/T 14352.(1～18)－1993钨矿石、钼矿石化学分析方法

DZG 20.01－19《岩石矿物分析》钨矿石物相分析

13、检测产品：

铅矿石（22个参数）（铜、铅、锌、镉、镍、钴、砷、铋、钼、钨、铬、硫、镓、锗、硒、碲）

GB/T 14353.(1～16)－1993铅矿石化学分析方法

14、检测产品：

铜精矿（10个参数）（铜、金、银、硫、氧化镁、氟、铅、砷、镉、锌）

GB/T 3884.(1～15)－2000铜精矿化学分析方法

请教高人：什么牌子的光谱仪分析数据准确？ （化验石灰石 矿石 合金等）

以内.b.小型管激发X-荧光能谱仪：由于探测器采用正比计数管技术，因此体积较小，优点是价格便宜，适用于单元素的高含量的分析。缺点是由于采用正比计数管技术探测器分辨率较，因而不能对相邻元素进行分析，不能进行多元素分析，一般仅对一个元素进行半定量分析。c.大型X-荧光能谱仪：主要特点是采用Si(Li)探测器技术，按制冷方法可分液氮制冷和电致冷两种。仪器有很高的稳定性、很高的灵敏度、准确度和重现性，可同时分析Na-U的各种元素，分析的浓度从

一般要好的这种产品基本都进口的，如果老板舍得买的话~而且光谱仪种类有很多，不知道你们需要哪种？X-荧光能谱仪类别：a.便携式荧光能谱仪，它是以同位素源为激发源，优点是体积小巧，便于携带，适用现场分析或野外和大型工件或设备上某零件的元素分析及合号的鉴定。主要缺点是不能达到大型荧光能谱的分析精度；一般为定性半定量分析获准定量分析。目前上的便携式荧光能谱仪可同时分析包括黄金(Au)等24种元素,主量元素分析准确度可达1%

100％－ppm级，目前世界上的能谱仪在分析纯水中痕量元素时可以达ppb级。d.

微区X-荧光能谱仪：除去上述类型的能谱仪另外，还有特殊性能的荧光能谱仪。上述的荧光能谱仪均是从事材料的平均成份分析，对材料中的夹杂物或不均匀材料或小颗粒的分析有很大的局限性。目前有一种非常成熟的能谱技术，这种能谱叫微区X-荧光能谱仪，它不仅可以完成一般能谱仪的平均成份的分析，又具有可变的细的X-光光束，可对微区进行有选择的分析。可通过精密移动样品台的对样品细小的区域进行成份分析,

并实时给出元素的面分布图。它类同于扫描电镜或电子探针的分析,

但又比后者灵敏度高得多。特别实用于各种不均匀材料和夹杂物的鉴定分析。微区小区域一般可在50微米，

100微米，200微米，500微米至

1000微米（1毫米）放射性勘探方法由用户任意选择。仪器同时配有CCD

显示系统，用户可以通过监视器选择分析的区域，

具有放大图像的功能，放大倍数为：50X,

100X,

300X.这是目前能谱仪中性能的，但其价格较高。大体的说牌子的话不好给建议，德国和美国的分析仪器都很好~